[发明专利]模块开关机老化的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201911266258.5 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111665412A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 王朋朋;秦美霞 | 申请（专利权）人： | 重庆芯讯通无线科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦;林嵩 |
| 地址： | 401336 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模块开关机老化的测试方法及系统，所述测试系统包括上位机和测试装置；测试装置包括测试引脚供电模块；在测试引脚供电模块给对应的测试引脚供电时，上位机用于根据设定测试项对待测模块进行测试，并获取测试结果；上位机还用于判断测试结果是否满足设定条件，若是，则确定待测模块未发生开关机老化；若否，则确定待测模块发生开关机老化。本发明的测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点；能够实现一台上位机同时测试8个待测模块，从而提高了开关机老化的测试效率；另外，可以读取每个被测模块的工作电流和工作电压，便于后续问题的定位分析。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 开关机 老化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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