[发明专利]光学分析和采样系统有效

专利信息
申请号: 201911267749.1 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN110987528B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 马克·埃里克·纳尔逊;阿尔卡季·萨穆伊洛维奇·德克曼;安德烈·弗拉基米罗维奇·济年科夫 申请(专利权)人: 沙特基础工业全球技术有限公司
主分类号: G01N1/10 分类号: G01N1/10;G01N21/05;G01N21/27;G01N21/75;G01N1/38
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 陈知宇
地址: 荷兰贝尔根*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及光学分析和采样系统。具体地,在一种实施方式中,光学系统包括具有由壳体的内表面限定的内部流体腔的光室,布置在壳体中并与内部流体腔流体连通的过程入口,以及布置在壳体中并与内部流体腔流体连通的过程出口,其中过程入口和过程出口促进流体通过内部流体腔的流动。采样出口可以布置在壳体中并与内部流体腔流体连通。第一双向泵可以与采样出口和第一储存容器流体连通并且可以配置为通过采样出口抽取流体的第一样品并使第一样品流入第一储存容器。
搜索关键词: 光学 分析 采样系统
【主权项】:
暂无信息
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