[发明专利]应用于AFM-SEM混合显微镜系统的PRC及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201911274839.3 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN111024988B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 陈科纶;王纯配;陈俊;孙钰;汝长海 申请(专利权)人: 江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司
主分类号: G01Q70/16 分类号: G01Q70/16;G01Q80/00;B81C1/00;B81B7/02
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 张荣
地址: 215100 江苏省苏州市相城*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC及其制造方法。本发明一种应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC,包括:pcb基板、设置在所述pcb基板上的衬底、设置在所述衬底上的固定值电阻器、设置在所述衬底上的压电电阻器、焊盘和固定结构;所述压电电阻器包括悬臂梁和设置在所述悬臂梁前端的探针;所述固定值电阻器和所述压电电阻器互相平行;所述pcb基板远离所述衬底的一侧、两个侧边和靠近所述衬底的一侧设有第一导电涂层。本发明的有益效果:通过导电涂层尽可能消除落在PRC上的电荷,降低SEM电子束对PRC造成的干扰,使得基于PRC的AFM可以兼容SEM。
搜索关键词: 应用于 afm sem 混合 显微镜 系统 prc 及其 制造 方法
【主权项】:
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