[发明专利]一种电子学太赫兹层析成像仪及测试方法有效
| 申请号： | 201911277608.8 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111103254B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 梁晓林;朱伟峰;邓建钦;张枢;程笑林 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581 |
| 代理公司： | 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247 | 代理人： | 马千会 |
| 地址： | 266000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于太赫兹成像技术领域，涉及太赫兹层析成像设备及测试方法。一种电子学太赫兹层析成像仪，包括：微波激励源、太赫兹倍频发射源、光束传输单元、太赫兹探测器、采样单元、转台单元和主控计算机；所述光束传输单元包括依次设置在光路上的准直透镜和衍射相位板；所述准直透镜用于将呈高斯分布的太赫兹波转换为平行波束；所述衍射相位板用于将平行波束转化为无明显衍射效应的结构化太赫兹波束。本发明的有益效果是：匀化太赫兹波可满足待测物质大视场、高分辨率及实时成像；太赫兹探测器可进一步简化系统复杂度，且可满足待测物质实时数据采集的应用需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子学 赫兹 层析 成像 测试 方法 | ||
【主权项】：
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