[发明专利]智能型光学检测样品特征与瑕疵智能打光取像方法及装置在审
| 申请号： | 201911279813.8 | 申请日： | 2019-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN110956627A | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 魏源钟;许智钦 | 申请（专利权）人： | 智泰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/20;G06K9/62;G01N21/88 |
| 代理公司： | 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 | 代理人： | 郑永康 |
| 地址： | 中国台湾新北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种智能型光学检测样品特征与瑕疵智能打光取像方法及装置，先对样品初步取像，再以智能分类器依据智能分类模型来判断对应的最佳光源打光参数，再利用光源摄影控制模组根据对应的最佳光源打光参数控制相机单元、光源装置以及可动式机构进行智能打光及二次取像，将打光效果良好的样品图像储存于数据库单元，如打光效果不佳，则以人工方式找出对应的最佳光源打光参数。将参数数据输入深度学习神经网络，以深度学习神经网络对智能分类器进行智能分类模型训练，取得结果良好的智能分类模型供智能分类器利用。 | ||
| 搜索关键词： | 智能型 光学 检测 样品 特征 瑕疵 智能 打光 方法 装置 | ||
【主权项】：
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