[发明专利]测量元件及包括该测量元件的测量装置在审
申请号: | 201911281639.0 | 申请日: | 2019-12-13 |
公开(公告)号: | CN112964419A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 陈芳;李宝刚 | 申请(专利权)人: | 艾默生(北京)仪表有限公司 |
主分类号: | G01L19/00 | 分类号: | G01L19/00;G01L19/06;G01L13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王艳江;王蓓蓓 |
地址: | 102600 北京市大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供了一种测量元件和测量装置。该测量元件包括基体以及隔片,隔片固定地连接至基体,并且隔片与基体之间限定有密封腔,隔片在其背向密封腔的外侧表面上设置有抗腐蚀层并且隔片在其面向密封腔的内侧表面设置有防氢渗透层。所述测量装置包括上述测量元件。 | ||
搜索关键词: | 测量 元件 包括 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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