[发明专利]基于氧化镓的PN结结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201911283538.7 申请日: 2019-12-13
公开(公告)号: CN111063742B 公开(公告)日: 2022-08-19
发明(设计)人: 龙世兵;郝伟兵;徐光伟;刘琦;赵晓龙;刘明 申请(专利权)人: 合肥中科微电子创新中心有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/267;H01L29/45;H01L21/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 230000 安徽省合肥市中国(安徽)自由贸易试验区合肥市高新区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于氧化镓的PN结结构,自上而下依次包括:第一电极层、p型层、n型层和衬底层,p型层和n型层相接触形成PN结;第一电极层为氧化物电极,p型层为p型氧化物层,n型层为n型氧化镓基层。本发明公开的PN结结构极大降低了PN结的反向漏电流,提高器件的击穿电压,以提升PN结的性能;同时,采用氧化物电极分别与p型氧化物半导体、N型氧化物半导体形成欧姆接触,进一步降低全氧化物PN结的开启电压和导通电阻。此外,采用全氧化物(电极与半导体材料均是氧化物)的PN结结构能够避免与非氧化物材料在接触界面处的氧化反应,有效降低界面态密度,从而更好地调节界面缺陷问题,提高器件性能的同时可易于实现大规模的工业制造。
搜索关键词: 基于 氧化 pn 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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