[发明专利]一种光纤陀螺光路熔接性能检测方法有效
| 申请号： | 201911284128.4 | 申请日： | 2019-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN110987011B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 汪刚;黄博;李云娇;江维;洪伟;娄少峰;张培;赵永亮 | 申请（专利权）人： | 西安航天精密机电研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C19/72 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 史晓丽 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于光纤陀螺熔接性能评价方法，为了解决现有技术中高精度光纤陀螺无法在装配完成后对装配性能进行有效评价的技术问题，提供一种光纤陀螺光路熔接性能评价方法，将光谱仪连接于2*2耦合器与光电探测器之间熔接点，通过光谱仪上显示的图谱判断保偏光纤与保偏光纤之间熔接点是否存在异常，能够在装配完成后对熔接点熔接质量进行有效评价，无需拆除所有器件，可在确定异常熔接点后再对该熔接点重新熔接，本发明的方法简单直观，易于现场测试分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 陀螺 熔接 性能 检测 方法 | ||
【主权项】：
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