[发明专利]一种波长调制光谱技术中激光相对波长的测量方法有效
申请号: | 201911285286.1 | 申请日: | 2019-12-13 |
公开(公告)号: | CN111024651B | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 杜艳君;彭志敏;丁艳军 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39;G01J9/02 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更岩 |
地址: | 100084 北京市海淀区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种波长调制光谱技术中激光相对波长的测量方法,属于可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)技术领域。该方法针对波长调制法中的相对波长测量问题,将波长扫描与调制过程进行解耦,通过探测三次相互独立的简谐电流波形下的相对波长特性随激光器输入电流的变化规律,确定激光器扫描、调制特性以及二者间的相互耦合作用,基于三个容易处理的简谐波形下的相对波长特性,确定实际波长调制法中扫描和调制同时存在的复杂波形下的相对波长。该方法测量相对波长精度高,过程简便清晰,有效地解决了传统测量方法数据处理过程繁琐、无法精确描述波长扫描和调制耦合作用等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 波长 调制 光谱 技术 激光 相对 测量方法 | ||
【主权项】:
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