[发明专利]垂直半导体装置及其制造方法在审
申请号: | 201911291878.4 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN111696988A | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | 金恩镐;丁垠朱;柳宗铉;尹基准;李圣勋 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11556;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 垂直半导体装置及其制造方法。一种制造半导体装置的方法包括以下步骤:通过在基板上方交替地层叠介电层和牺牲层来形成包括下多层层叠物和上多层层叠物的交替层叠物;形成将上多层层叠物划分为虚设层叠物的垂直沟槽;形成从垂直沟槽向下延伸以将下多层层叠物划分为焊盘层叠物和虚设焊盘层叠物的不对称阶梯沟槽,其中,形成不对称阶梯沟槽的步骤包括:形成限定在焊盘层叠物的边缘处的第一阶梯侧壁;以及形成限定在虚设焊盘层叠物的边缘处并占据比第一阶梯侧壁小的面积的第二阶梯侧壁。 | ||
搜索关键词: | 垂直 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的