[发明专利]一种平行平面参数在机测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 201911293723.4 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN111060010A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 刘常杰;阎超 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/26
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 张建中
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种平行平面参数在机测量系统,包括机床工作台及机床主轴,待测工件位于所述机床工作台上,待测工件的两平行平面垂直于所述机床工作台;还包括测量装置及两个量块;所述测量装置包括两个测距传感器;两个所述测距传感器位于所述机床主轴轴线的两侧且分别与所述机床主轴固接,两个所述测距传感器的测量方向平行于所述机床工作台并垂直于待测工件的两平行平面;两个所述量块位于所述机床工作台上且其测量面与待测工件的两平行平面平行。本发明还公开了一种平行平面参数在机测量方法。本发明的平行平面参数在机测量系统在机测量方式可以有效避免离线测量中工件移动与重定位的复杂过程;提高了测量的准确度、便捷性以及自动化水平。
搜索关键词: 一种 平行 平面 参数 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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