[发明专利]一种基于ATE进行CIS芯片检测的装置及方法在审
| 申请号： | 201911294065.0 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN111077430A | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 李冲;陆祎;叶红波;张悦强;史海军 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;马盼 |
| 地址： | 201210 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE进行CIS芯片检测的方法，包括如下步骤：S01：CIS芯片中的串行图像数据传输至数据通道同步采集模块；S02：数据通道同步采集模块将串行图像数据按照行顺序缓存至所述缓存模块；S03：所述转换模块按照行顺序依次将串行图像数据转换为并行图像数据；S04：所述并行图像数据传输至所述并行输出模块，所述并行输出模块为并行图像数据添加指示信号；所述指示信号和并行图像数据传输至ATE测试平台；S05：所述ATE测试平台对接收到的并行图像数据进行测试。本发明提供的一种基于ATE进行CIS芯片检测的装置及方法，通过FPGA中转处理使得ATE测试平台能够对CIS芯片的串行工作模式进行测试和评估，降低测试成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 进行 cis 芯片 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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