[发明专利]一种集成电路测试方法在审
| 申请号： | 201911294300.4 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN110927560A | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 周国成 | 申请（专利权）人： | 无锡矽鹏半导体检测有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 朱晓林 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路测试领域,公开了一种集成电路测试方法，在进行跳变测试时，先确定集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即大步距调节信号源输入集成电路的信号值，直至集成电路的输出管脚出现状态跳变，然后将信号源的输出信号值后退两个大步距，接着小步距调节信号源的输出信号值，直至集成电路的输出管脚再次出现跳变，此时信号源的输出信号值便是测量结果。本发明通过先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
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