[发明专利]芯片无线参数的校准方法、装置及电子设备有效
| 申请号： | 201911297886.X | 申请日： | 2019-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN111200467B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 祖东辉;刘森;叶红亮 | 申请（专利权）人： | 翱捷科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 冯振华 |
| 地址： | 518035 广东省深圳市福田区华富街道莲*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供了一种芯片无线参数的校准方法、装置及电子设备，属于无线传输技术领域，该方法包括：确定待校准的目标芯片；获取对应所述目标芯片的辐射损耗值；通过辐射测试，采集所述目标芯片的辐射参数；将所述辐射参数和所述辐射损耗值相加的值，作为所述目标芯片的无线参数。通过本公开的方案，简化了芯片无线参数的校准流程，补偿了辐射测试过程中环境因素造成的损耗，提高了无线参数校准的准确度。减弱在无线信号发射芯片在生产校准中，由于辐射校准时环境因素导致的发射参数校准偏差。本方法方便批量加工生产，使得工厂芯片的无线发射校准更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 无线 参数 校准 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于翱捷科技（深圳）有限公司，未经翱捷科技（深圳）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911297886.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
