[发明专利]一种无盲区的光量子测距仪及测距方法有效
| 申请号： | 201911298090.6 | 申请日： | 2019-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN110954914B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 张万钧 | 申请（专利权）人： | 北京缔科新技术研究院（有限合伙） |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/4861;G01S7/4913 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 王月松 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种无盲区的光量子测距仪及测距方法，包括激光发射装置端、激光接收装置端、激光解析模块、算法解析模块、存储显示模块；所述激光发射装置端用于向目标发射激光，即出射激光；所述激光接收装置端用于接收被目标反射的激光，即反射激光；所述激光解析模块用于对被目标反射的反射激光进行激光解析；所述算法解析模块用于存储高效算法，将反射激光携带的目标信息进行算法解析，得到目标距离；所述存储显示模块用于存储并显示目标距离等信息。还提供了无盲区的光量子测距仪的测距方法。本发明的有益效果为：在进行测距保证较大测量范围的同时，达到无盲区测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 盲区 光量子 测距仪 测距 方法 | ||
【主权项】：
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