[发明专利]基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统在审
| 申请号： | 201911303817.5 | 申请日： | 2019-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN110988966A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 温伟伟;程金星;吴友朋;王庆波 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军96901部队23分队 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202;G01T3/06 |
| 代理公司： | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 | 代理人： | 刘真 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开实施例公开了一种基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统，所述方法包括：CLYC晶体探测准直中子、γ射线的混合射线束照射被检物体后，透射出的混合射线束，发出可甄别的荧光；位置灵敏光电倍增管采集CLYC晶体发出的可甄别的荧光，将荧光信号转换为电信号并记录荧光位置信息；信号放大单元对所述电信号进行放大和降噪处理；信号甄别单元对所述荧光位置信息进行甄别；数据处理单元对甄别后的电信号进行模数转换和图像处理；显示单元上呈现被检物体的中子照相图片和γ照相图片。该技术方案既能够充分利用两种射线无损检测方法的互补优势，提高无损检测能力，又能够提高效率，消除两种射线在单独开展无损检测时的相互干扰因素。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 clyc 晶体 中子 射线 复合 照相 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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