[发明专利]一种融合的深度测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201911306106.3 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111045029B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 许星 | 申请（专利权）人： | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/894 | 分类号： | G01S17/894;G01S17/10 |
| 代理公司： | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人： | 田志立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种融合的深度测量装置，包括发射模块，用于向目标物体发射振幅时序被调制的斑点图案光束；接收模块，接收目标物体反射的斑点图案光束并形成电信号；控制和处理电路，接收所述电信号并计算得到TOF深度图和结构光图案，将所述TOF深度图中的深度值作为可靠点，赋值到所述结构光深度图中对应像素位置，并利用所述可靠点校正所述结构光深度图，最终得到目标物体的深度图像。本发明基于TOF深度值具有较高的测量精度，以TOF深度值为依据校正结构光深度图因匹配计算所引起的误差，获得高精度的深度图，结合结构光测量的高分辨的优点，实现了一种高精度、高分辨率、低功耗、小型化的深度测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 融合 深度 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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