[发明专利]一种片上系统及USB物理层测试方法有效
| 申请号： | 201911312547.4 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111090556B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 杜金凤;张览;刘锴;宋国民;贾瑞华 | 申请（专利权）人： | 广东高云半导体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 唐双 |
| 地址： | 广东省广州市黄埔*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种片上系统，用于测试USB物理层，包括：微控制单元，与上位机连接；现场可编程门阵列，包括：数据发生器，与微控制单元连接；数据校验器，与微控制单元连接；以及USB物理层收发器，与微控制单元、数据发生器和数据校验器连接；其中，微控制单元接收并响应于上位机的测试指令，控制数据发生器生成测试激励数据，以用于测试USB物理层，控制USB物理层收发器接收并发送测试激励数据至数据校验器，控制数据校验器对测试激励数据进行校验以输出校验结果，以及将校验结果发送给上位机。本发明还提供相应的测试方法。本发明实现了对不同USB传输协议标准的物理层的一致性验证，成本低、结构简单、易于操作以及测试周期短。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 usb 物理层 测试 方法 | ||
【主权项】：
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