[发明专利]沿面闪络用非介入式表面电位测量装置在审
| 申请号： | 201911313265.6 | 申请日： | 2019-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN110967563A | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 尹毅;范路;王亚林 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12;G01R29/24;G01R31/16 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种沿面闪络用非介入式表面电位测量装置，包括：测试腔、闪络引发装置、表面电位测量装置以及信号采集和分析装置，闪络引发装置和表面电位测量装置设置于测试腔内且分置于待测样品两侧，信号采集和分析装置设置于测试腔外并与表面电位测量装置相连。本发明在温度、湿度和真空度可控条件下实现闪络引发和表面电位测量同步进行，弥补传统表面电位测量只能工作在闪络结束后的不足，通过对表面电位测量结果的分析能够实现闪络前加压阶段的表面电荷积聚特性以及闪络期间表面电荷动态特性的研究，为今后电介质耐闪络性能的评估提供支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 沿面闪络用非 介入 表面 电位 测量 装置 | ||
【主权项】：
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