[发明专利]一种纳米烧结铜与晶圆结合的制备方法及其连接结构有效
申请号: | 201911318075.3 | 申请日: | 2019-12-19 |
公开(公告)号: | CN111146076B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 张卫红;唐宏浩;叶怀宇;张国旗 | 申请(专利权)人: | 深圳第三代半导体研究院 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/18 |
代理公司: | 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙) 11888 | 代理人: | 彭随丽 |
地址: | 518055 广东省深圳市西*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种纳米烧结铜与晶圆结合的制备方法及其连接结构。将晶圆背面金属镀铝替代镀其他金属金、银、或铜等,采用磁控溅射等方法制备纳米铝晶薄膜;在纳米烧结铜与纳米铝晶薄膜接触时,有氧原子或氧离子处理活化界面。这种材料设计和工艺方法是利用纳米尺度材料特性及铜与氧化铝界面的特殊反应现象,达到在低温下同时完成铜本身的烧结连接及其与晶圆或芯片界面的结合;既节约成本又可获得良好的铜烧结效果,并且,可以一定程度地提升纳米烧结铜与晶圆界面的结合力及可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 烧结 结合 制备 方法 及其 连接 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳第三代半导体研究院,未经深圳第三代半导体研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911318075.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造