[发明专利]传感器测试方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 201911323609.1 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN110849407B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 俞斌 | 申请（专利权）人： | TCL移动通信科技（宁波）有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 李新干 |
| 地址： | 315042 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试技术领域，公开了一种传感器测试方法、装置、存储介质及电子设备，该传感器测试方法应用于电子设备，电子设备包括传感器，该方法包括：将电子设备与承载电子设备的夹具连接；将传感器测试序列，从电子设备发送至夹具，传感器测试序列包括所有夹具可能调用的指令或指令集；将代表所述传感器测试序列中对应指令的码发送至夹具，使得夹具根据码，调用传感器测试序列中的对应指令，对传感器进行测试。本发明方法通过将传感器测试序列及码存储在电子设备中，再依次发送至夹具，实现了基于电子设备的自身状况进行测试，加快传感器的测试进程，从而提高电子设备的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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