[发明专利]一种纳米颗粒聚集生长模拟过程特征数据的分析统计方法在审
| 申请号： | 201911323763.9 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN111161805A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 王雪;王建伟;肖伟;施静敏;王立根;孙璐;崔建东 | 申请（专利权）人： | 有研工程技术研究院有限公司;有研科技集团有限公司 |
| 主分类号： | G16C10/00 | 分类号： | G16C10/00;G16C60/00 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 陈波 |
| 地址： | 101407 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明属于纳米材料技术领域，尤其涉及一种纳米颗粒聚集生长模拟过程特征数据的分析统计方法，主要包括构建纳米颗粒单体模型，输出单体模型的结构信息，采用分子动力学方法模拟纳米颗粒的聚集生长过程；根据研究对象材料的晶体结构及晶格常数，计算截断距离r |
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| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 聚集 生长 模拟 过程 特征 数据 分析 统计 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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