[发明专利]CIS芯片动态坏点处理方法及系统在审
申请号: | 201911323990.1 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN111083401A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 胡兵;黄昊;姜洪霖 | 申请(专利权)人: | 成都费恩格尔微电子技术有限公司;上海菲戈恩微电子科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367;H04N5/374 |
代理公司: | 成都蓉创智汇知识产权代理有限公司 51276 | 代理人: | 谭新民;赵雷 |
地址: | 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种CIS芯片动态坏点处理方法及系统,该方法包括:以一个像素点为中心形成矩阵像素阵列,该像素点为G |
||
搜索关键词: | cis 芯片 动态 处理 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都费恩格尔微电子技术有限公司;上海菲戈恩微电子科技有限公司,未经成都费恩格尔微电子技术有限公司;上海菲戈恩微电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911323990.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。