[发明专利]CIS芯片动态坏点处理方法及系统在审

专利信息
申请号: 201911323990.1 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN111083401A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 胡兵;黄昊;姜洪霖 申请(专利权)人: 成都费恩格尔微电子技术有限公司;上海菲戈恩微电子科技有限公司
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367;H04N5/374
代理公司: 成都蓉创智汇知识产权代理有限公司 51276 代理人: 谭新民;赵雷
地址: 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种CIS芯片动态坏点处理方法及系统,该方法包括:以一个像素点为中心形成矩阵像素阵列,该像素点为G中心;令Gmax为矩阵中的所有像素点的像素中的最大值,Gmin为矩阵中的所有像素点的像素中的最小值,GAvg为矩阵中去除G中心、Gmax和Gmin外剩余点的平均值,Gdif=Gmax‑Gmin;判断G中心是否为坏点,若G中心GAvg+Gdif或G中心GAvg+Gdif,则G中心为坏点;如G中心为坏点,令G中心=G矫正;对图像中的其它的每一像素点都重复上述步骤进行处理。本发明处理速度快、硬件资源消耗小,适合CIS芯片集成。
搜索关键词: cis 芯片 动态 处理 方法 系统
【主权项】:
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