[发明专利]一种谱辐射计系统仿真和性能评估方法在审
| 申请号： | 201911326082.8 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN113010991A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 段永强;王振占;许皓文;王文煜 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/15 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;李彪 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于微波遥感仪器和信号处理技术领域，具体涉及一种基于谱辐射计系统的仿真方法，该方法包括：根据预先建立的热辐射噪声模型，分别模拟生成冷定标源输入信号、热定标源输入信号和场景目标源的输入信号；将上述冷定标源输入信号、热定标源输入信号和场景目标源的输入信号分别输入至谱辐射计系统中，对应地输出冷输出功率谱、热定标源输出功率谱和场景目标源输出功率谱，根据冷输出功率谱、热定标源输出功率谱和场景目标源输出功率谱，通过定标确定场景目标源的输出辐射谱；根据场景目标源的输出辐射谱，计算谱辐射计仿真系统的性能指标；调整谱辐射计系统的设计指标，直至性能指标满足要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射计 系统 仿真 性能 评估 方法 | ||
【主权项】：
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