[发明专利]一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201911330119.4 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN111090016A 公开(公告)日: 2020-05-01
发明(设计)人: 叶羽安;王文攀;麦炎全 申请(专利权)人: 深圳市晟碟半导体有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/165
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;宗继颖
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法,所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载;整流桥输出线电压至泄放模块和负载;泄放模块根据线电压输出采样信号至检测模块,并在线网中设置有可控硅调光器时为其提供泄放电流;检测模块根据采样信号与预设信号确定线网未设置可控硅调光器时,控制泄放模块关断,当确定线网有设置可控硅调光器时,控制泄放模块持续导通,采样信号的电压在线电压大于泄放模块的启动电压时恒定,在线电压小于所述启动电压时随线电压减小,进而实现了检测可控硅调光器的有无,以达到节约能耗的目的;同时,可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。
搜索关键词: 一种 可控硅 调光器 检测 装置 电路 及其 方法
【主权项】:
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