[发明专利]一种集成电路测试治具在审
| 申请号： | 201911330366.4 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN111044880A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 张国辉;王彩霞 | 申请（专利权）人： | 天津智安微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙) 11684 | 代理人： | 郭娜 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区华苑产业区海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试治具，包括底板和顶板，顶板顶部外壁的一侧开有转动槽，且转动槽的内部转动连接有定压块，顶板顶部外壁的另一侧开有压块槽，且压块槽的侧面内壁上开有呈水平结构分布的两个滑槽，滑槽的顶部内壁上开有螺栓槽，且螺栓槽贯通至顶板的顶部外壁上，滑槽的内部滑动连接有滑块，且两个滑块之间转动连接有动压块，动压块滑动连接在压块槽的内部，螺栓槽的内部滑动连接有锁紧螺栓。本发明的动压块能够在压块槽的内部滑动，并通过锁紧螺栓锁死，定压块和动压块配合将集成电路压紧，使得本发明能够适用于一定规格范围内的所有集成电路，大大降低了小批量集成电路测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
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