[发明专利]电离层影响下的GBAS系统性能评估方法及装置有效
| 申请号： | 201911331940.8 | 申请日： | 2019-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN110988929B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 王雪峰;王岸石;刘洋;陈楚天;赵毓譞;胡耀坤;李昱;苏从兵 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十研究所;中电科西北集团有限公司西安分公司 |
| 主分类号： | G01S19/23 | 分类号： | G01S19/23 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 金凤 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电离层影响下的GBAS系统性能评估方法及装置，读取仿真场景参数，GBAS地面设备参数以及GNSS卫星参数数据；对所得数据进行数据处理，得到卫星、飞机、地面设备、异常电离层四者相互影响下飞机的保护级和定位误差，根据确定的定位误差和保护级，统计计算电离层异常对GBAS地面设备影响仿真中的完好性和可用性结果。本发明完整且系统地建立了一种电离层影响下的GBAS系统性能评估方法，整个确定过程简单、易执行，评估GBAS系统在突发的电离层异常情况下的系统性能结果也比较准确。本发明仿真成本低，能够节约时间，提高效率，且可以模拟多种场景，具有适应性多样化的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 电离层 影响 gbas 系统 性能 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
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