[发明专利]一种性能分析方法、装置及电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 201911332529.2 | 申请日： | 2019-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN111124308A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 曹立霞;张端 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种性能分析方法、装置及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：确定目标IO事件，并将所述目标IO事件划分为多个阶段；通过对每个所述阶段的开始时间和结束时间进行时间打点统计每个所述阶段的时延；基于所述每个阶段的时延对所述目标IO事件进行性能分析。本申请提供的性能分析方法，通过对储存设备端IO事件各阶段的时延的统计处理，进行针对性的性能分析。当需要对储存设备端进行性能分析和统计时，通过在线配置开关打开储存设备端性能统计功能，执行命令行，即可输出当前的IO即目标IO事件的时延情况，以及该目标IO事件中和阶段的时延及IO阻塞数据，为IO性能瓶颈点分析提供有效的分析数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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