[发明专利]SMD5032晶体振荡器振动试验下电性能监测实现装置和方法在审
| 申请号： | 201911333411.1 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN110987336A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 李国强;王莉;郑文强;王巍丹;牛磊;叶林;崔巍;段友峰;哈斯图亚 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种SMD5032晶体振荡器振动试验下电性能监测实现装置和方法，用于解决现有SMD7050封装晶体振荡器产品振动试验下电性能监测装置无法测试SMD5032封装晶体振荡器问题，该装置包括固定部件、装置主体和底座，固定部件包括金属压条和固定螺丝，装置主体包括测试座、控制电路模块、印制板、电路板电源线、电路板逻辑控制线和电路板频率输出电缆线，测试座和控制电路模块安装在印制板上，金属压条通过固定螺丝将装置主体固定在底座上。本发明还提供一种监测方法。本发明可以对SMD5032封装晶体振荡器振动状态下进行无损伤的、精确的电性能监测，具有测试无损伤、测试稳定性好、操作快捷方便、测试效率高等特点和优势。 | ||
| 搜索关键词： | smd5032 晶体振荡器 振动 试验 性能 监测 实现 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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