[发明专利]一种多普勒差分干涉仪成像位置偏移的检测方法及系统有效
| 申请号： | 201911337477.8 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN111089537B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 冯玉涛;张亚飞;傅頔;畅晨光;李娟;胡炳樑 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01P5/26 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 汪海艳 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于图像处理技术领域，具体涉及一种多普勒差分干涉仪成像位置偏移的检测方法及系统，克服多普勒差分干涉仪像面的漂移对反演相位精确度的影响，以获得更精准的相位结果。在多普勒差分干涉仪的光栅衍射面蚀刻出周期性的均匀的凹槽作为标尺，这样干涉仪所成条纹图像中对应凹槽位置有周期性的阴影图案。基于拟合的方法对阴影图案的边缘进行亚像素精度的精细探测，获得边缘中心的像元位置，通过边缘中心位置的变化确定干涉仪成像位置的漂移。根据检测到的图像整体在探测器像面上的偏移量对反演相位进行修正。获得精确的反演相位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多普勒 干涉仪 成像 位置 偏移 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911337477.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电线电缆加工设备
- 下一篇：一种温差发电件及其制备方法
