[发明专利]一种E-fuse熔断特性的测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201911340129.6 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN111025197A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 刘禹延;吕圣凯;杨璐丹;方益 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/74 | 分类号： | G01R31/74;G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人： | 王静 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种E‑fuse熔断特性的测试电路，包括开关控制器、电压源、至少一待测E‑fuse及开关模块；所述开关控制模块的输出端连接到开关模块；所述待测E‑fuse的一端均连接到一个固定电势端，另一端均连接到所述电压源，且每个待测E‑fuse连接有一个开关模块，用于通过该开关模块控制该待测E‑fuse所在测试电路的通断；该测试电路大大增加了可测DUT的数量，节省了测试芯片面积，同时采用了熔断电压、一个非熔断电压进行测试，可以判断E‑fuse熔断是否是由于测试引起的；当采用脉冲电压测试信号时，既避免了传统可寻址测试结构测试E‑fuse造成电流累积的隐患，也可进一步减小外围测试电路的面积占用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fuse 熔断 特性 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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