[发明专利]嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911341927.0 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN113038067A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 赵树森 | 申请（专利权）人： | 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院 |
| 主分类号： | H04N7/18 | 分类号： | H04N7/18;G08B21/18;G06T7/00 |
| 代理公司： | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人： | 唐楠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种嵌入式设备检测方法，该方法包括：获取嵌入式设备的当前工作数据；将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的故障信息，以便于进行维护。此外，本发明还提供一种嵌入式设备检测装置、设备及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 设备 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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