[发明专利]一种MEMS红外探测器响应时间测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201911342208.0 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN110940422A 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 张琛琛;毛海央;陈大鹏 申请(专利权)人: 无锡物联网创新中心有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01V13/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李博洋
地址: 214135 江苏省无锡市新吴区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种MEMS红外探测器响应时间测量的装置及方法,该装置包括:辐射光源生成模块,用于产生辐射光源;脉冲激光生成模块,用于根据辐射光源产生功率可调的脉冲激光,并输入到MEMS红外探测器;测量模块,用于测得MEMS红外探测器在脉冲激光不同功率下的第一电压值和第二电压值;响应时间分析处理模块,用于根据第一电压值及第二电压值测量MEMS红外探测器的响应时间。通过实施本发明,克服了传统MEMS红外探测器响应时间测试中斩波器叶片遮挡‑镂空比例不易调节、叶片转动的频率难与探测器匹配、叶片转动耗时长以及采样点时间间隔较大的问题,且激光脉冲信号的测试误差在ns级,实现了对MEMS红外探测器响应时间的准确测试。
搜索关键词: 一种 mems 红外探测器 响应 时间 测量 装置 方法
【主权项】:
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