[发明专利]SPR芯片的检测通道、进样系统、单通道和串联进样方法在审

专利信息
申请号: 201911343893.9 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN110967318A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 黄秀静;孟凡伟;王鹏娟;张鹏飞;余杰 申请(专利权)人: 杭州纽蓝科技有限公司
主分类号: G01N21/552 分类号: G01N21/552
代理公司: 杭州知学知识产权代理事务所(普通合伙) 33356 代理人: 何红信
地址: 311100 浙江省杭州市余杭区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本公开提供了SPR芯片的检测通道、进样系统、单通道和串联进样方法,旨在解决现有进样方式单一的问题。检测通道包括一号三通阀、二号三通阀和三号三通阀;接口a连接有进样流道,接口b与接口g通过一号通道相连,接口c与接口d通过一号流道相连,接口e与接口i通过二号通道相连。进样系统依次设有进样装置、进样管、六通阀、定量环、进样流道和检测通道;还设有与六通阀相连的导管。通过切换三通阀的接口开关,可以实现两种不同的进样方法,单通道进样:一份样品进入一号通道;另一份样品经过一号流道进入二号通道。串联进样:只需一份样品,先进入一号通道进行检测,再进入二号通道检测。本公开解决了现有技术中进样方式比较单一的问题。
搜索关键词: spr 芯片 检测 通道 系统 串联 方法
【主权项】:
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