[发明专利]一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置有效
| 申请号： | 201911345128.0 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN111025114B | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 游诗勇 | 申请（专利权）人： | 福建福顺半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 350000 福建省福州*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，包括测试机和测试板卡，测试板卡与测试机相连接，所述测试板卡包括CD4069反相器、三极管Q1、三极管Q2和CD4541计数器，CD4069反相器的引脚1连接电阻R1，电阻R1的另一端连接电容C1和电阻R2，电阻R2的另一端连接CD4069反相器的引脚2和CD4069反相器的引脚3，电容1的另一端连接CD4069反相器的引脚4和CD4069反相器的引脚5，CD4069反相器的引脚6连接三极管Q1的基极和三极管Q2的基极，本发明以最低成本测试MOSFET的高频工作特性，结合DTS‑1000测试机，可用作量产高效率测试，同时维护成本也大大降低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 高频 参数 特性 全自动 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建福顺半导体制造有限公司，未经福建福顺半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911345128.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：拍摄方法及电子设备
- 下一篇：一种高空作业车工作平台送风系统
