[发明专利]一种基于质子辐照源的深度剂量分布的测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911347508.8 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN110988957B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 吴正新;孙慧斌;何承发;赵海歌;胡世鹏;钟健;甘林;罗奇;郝昕 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供的一种基于质子辐照源的深度剂量分布的测量装置及方法,装置包括:第一楔形模体和第二楔形模体;设置于第二楔形模体的上表面,用于接收辐照源产生的质子束的屏蔽层;设置在第一楔形模体和第二楔形模体之间,用于接收经过第二楔形模体后的质子束的第一显色胶片剂量计。本发明通过设置在第一楔形模体和第二楔形模体之间的第一显色胶片剂量计可以在一次辐照中获得质子束在第二楔形模体中的深度剂量分布,测量结果准确,测量方法简单,测量成本低;第二楔形模体为聚乙烯材料,可以等效人体组织内不同深度处的质子沉积能量以及粒子能谱信息,研究结果对航天员辐射屏蔽以及航天电子元器件辐照损伤以及辐射效应试验有很好的指导作用。
搜索关键词: 一种 基于 质子 辐照 深度 剂量 分布 测量 装置 方法
【主权项】:
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