[发明专利]一种基于遗传算法的良率提升适用模型的优化方法在审
申请号: | 201911353118.1 | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN111144569A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 陆晶晶;俞微;魏峥颖;王艳生 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G06N3/12 | 分类号: | G06N3/12;G06Q10/04 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种基于遗传算法的良率提升适用模型的优化方法,通过优化算法的欺骗问题,优化模型各参数,优化适应度函数,以及模型的完善,通过优化已建立的遗传算法模型,将产品过货模拟生物进化形式,一方面寻找产品过货的黄金路线,同时预测产品基于已有机况的CP/Bin上限值,为线上机台管控及优化提供参考,提高产品质量;另一方面可突出表现差的机台,预测该产品基于当前机况下的CP/Bin的恶化下限值,为线上机台管控及调整提供参考,保证产品质量稳定,节约了人力成本,同时解决问题更快更准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 遗传 算法 提升 适用 模型 优化 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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