[发明专利]一种X射线荧光增强的透视成像方法有效

专利信息
申请号: 201911354476.4 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111157560B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 李亮;陈志强;张丽;赵自然;邢宇翔;高河伟;方伟 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;A61B6/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 罗文群
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种X射线荧光增强的透视成像方法,属于辐射成像技术领域。本发明方法以传统的X射线透视成像;对人体等物体进行X射线扫描成像,同时采集X射线束穿过被扫描物体后衰减的信息,以及该射线束照射物体内的某些高Z元素而激发产生的特征X光子,同时获得X射线透视图像和X射线荧光图像。由于X射线透视可以提供高空间分辨率的物体结构信息,而X射线荧光可以针对特异元素(某些特定的高Z元素,例如含碘、钆、金等元素的靶向药物)实现高灵敏度的浓度分布成像,并通过图像融合技术实现两种不同模态图像的融合成像。因此,本发明的成像装置可以为临床医学、安检等领域提供高质量的多模态信息图像。
搜索关键词: 一种 射线 荧光 增强 透视 成像 方法
【主权项】:
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