[发明专利]一种光学装置的点源透过率测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201911356418.5 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111024372A 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 马拥华;孙晖;杨乾远;刘金标;蒋相;刘学;周远文 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十四研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 代理人: 欧阳波
地址: 541004 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明为一种光学装置的点源透过率测试系统及测试方法。本系统的支撑结构X轴一端固定平行光管,二维转台安装于支撑结构X轴另一端,其上安装光电经纬仪和待测光学装置。本测试方法调节二维转台使光学装置光轴与平行光管光束平行,测定光学装置入瞳处光功率值;调节光衰减器的衰减量;调节光电经纬仪使望远镜视场内的平顶光纤中心处于十字丝中心;光电经纬仪转动θ1,二维转台转动‑θ1,视场内的平顶光纤中心再次位于十字丝中心,记录光功率值,计算此时待测光学装置的点源透过率PST(θ1);继续调节光电经纬仪转动角度,得到系列的θi和PST(θi),做出PST曲线。本法提高点源透过率测量的动态范围,原理简单,操作方便,易于实施。
搜索关键词: 一种 光学 装置 透过 测试 系统 方法
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