[发明专利]电路检查方法及电子设备在审
| 申请号： | 201911357609.3 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN113030712A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 林筠菁;李孟蓉;罗幼岚;高淑怡 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;李伟 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本案揭露一种电路检查方法及电子设备，适于一待测电路，待测电路具有与至少一电晶体元件的闸极电压相关的至少一第一节点及其他复数个第二节点。电路检查方法包含设定待测电路的复数个输入介面埠的端点电压；依据待测电路的导通路径及电晶体元件的闸极电压，取得第一节点的第一节点电压；依据导通路径、端点电压及第一节点电压，取得每一第二节点的第二节点电压；以及应用第一节点电压及第二节点电压，对待测电路进行电路静态检查。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 检查 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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