[发明专利]一种空间光调制器相位测量的通用标定方法在审
| 申请号： | 201911359000.X | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN111537197A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 殷长志;王增坤;张军勇;李优 | 申请（专利权）人： | 上海瑞立柯信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人： | 黄冠华 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种空间光调制器相位测量的通用标定方法，包括以下步骤：(a)生成相位灰度图，采集光场分布图；(b)当人工判断图像质量为好时，生成0‑255相位灰度图；(c)定时循环依次加载，自动采集光场分布图，计算条纹以及零级质心偏移量，进而计算灰度相位映射表；(d)将灰度相位映射表进行数据拟合与预期的灰度相位映射进行对比分析，若是符合预期则完成标定；若是彼此不吻合，则将采集计算得到数据与预期数据进行Gamma校正形成新的Gamma映射表，同时写入Gamma映射表时返回步骤(c)，直至标定完成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 调制器 相位 测量 通用 标定 方法 | ||
【主权项】：
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