[发明专利]散射校正方法、装置、可读存储介质和电子设备有效

专利信息
申请号: 201911359777.6 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111067560B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 李新颖;梁国栋;王希;赵健;徐保伟 申请(专利权)人: 沈阳智核医疗科技有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 靳玫
地址: 110167 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本公开涉及一种散射校正方法、装置、可读存储介质和电子设备。该方法包括:针对探测器中多个目标晶体对中的每一目标晶体对,获取所述目标晶体对所对应的被检体的散射区域的平均衰减系数;根据每一所述目标晶体对所对应的所述散射区域的平均衰减系数,利用预先建立的衰减系数与低能阈值间的对应关系,确定每一所述目标晶体对所对应的目标低能阈值,其中,在所述对应关系中,衰减系数越大,对应的低能阈值越小;利用每一所述目标晶体对所对应的目标低能阈值进行单散射模拟的散射分布估计;根据散射分布估计结果进行散射校正。如此,可以得到更准确的散射分布,提高散射校正准确度,优化图像质量,有效节省PET重建成像时间。
搜索关键词: 散射 校正 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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