[发明专利]一种新型的超晶格红外探测器制备方法有效
申请号: | 201911361589.7 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111129223B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 陈意桥;颜全;赵曼曼 | 申请(专利权)人: | 苏州焜原光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 苏芳玉 |
地址: | 215211 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明针对采用现有技术生产工艺制备小尺寸的超晶格红外探测器时完成刻蚀步骤后需要将器件从前一个真空系统中取出,将器件暴露在大气中去除光刻胶,而后将器件放到下一个真空系统中进行原子层刻蚀清理、原子层钝化,使得器件暗电流较大,生产效率低,造成环境污染的不足,提供一种新型的超晶格红外探测器制备方法,该方法依次包括如下步骤:光刻显影——原子层刻蚀——等离子体刻蚀清理——原子层钝化——腐蚀钝化层并去掉光刻胶——露出电极孔——电极孔处生长电极;原子层刻蚀、等离子体刻蚀、原子层钝化步骤在真空度小于等于5E‑8Torr的生长室中完成,本发明中,省去了单独在大气环境中去除光刻胶的步骤,降低了暗电流,提高了器件性能和工作效率,减少了环境污染。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 晶格 红外探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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