[发明专利]一种空间太阳X射线和极紫外双分辨率成像仪在审

专利信息
申请号: 201911361954.4 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN111006644A 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 陈波;王蕴琦;刘世界;何玲平;郭权锋;王海峰;张宏吉;张广;毛石磊;王孝东 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 李青
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种空间太阳X射线和极紫外双分辨率成像仪属于空间光学领域,实现了对X射线和极紫外波段双分辨率成像。该成像仪包括:X射线掠入射光学系统、极紫外多层膜正入射光学系统、光路切换装置、面阵探测器和腔体;X射线掠入射光学系统、极紫外多层膜正入射光学系统、光路切换装置和面阵探测器依次设置在腔体内;X射线掠入射光学系统、极紫外多层膜正入射光学系统和面阵探测器同光轴设置;X射线掠入射光学系统和极紫外多层膜正入射光学系统共像面结构,面阵探测器位于X射线掠入射光学系统和极紫外多层膜正入射光学系统像面处。这种光学系统设计,节省空间,在不增加体积的情况下,拓展工作波段范围,实现对X射线和极紫外波段两个波段成像。
搜索关键词: 一种 空间 太阳 射线 紫外 分辨率 成像
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911361954.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top