[发明专利]射频引入装置及半导体加工设备在审
申请号: | 201911376061.7 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111139460A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 姜艳杰;王晓飞 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | C23C16/509 | 分类号: | C23C16/509;C23C16/458;H01L31/18 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;王婷 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请实施例提供了一种射频引入装置及半导体加工设备。该射频引入装置用于向位于半导体工艺炉内部的晶舟引入射频,包括:支撑机构、前射频机构及后射频机构;支撑机构包括支撑杆,且支撑杆的第一端与半导体工艺炉的炉口连接,支撑杆的第二端与半导体工艺炉的炉尾连接;前射频机构及后射频机构并列设置于支撑杆上,用于承载晶舟;前射频机构靠近支撑杆的第一端设置,后射频机构靠近支撑杆的第二端设置;前射频机构与晶舟的一端电连接,后射频机构与晶舟的另一端电连接。本申请实施例实现了对晶舟的射频进行双向引入,从而改变半导体工艺炉内晶舟正负极间的电流方向,进而改善了工艺的均匀性和钝化效果。 | ||
搜索关键词: | 射频 引入 装置 半导体 加工 设备 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的