[发明专利]一种光检测电路及光检测方法、芯片在审
| 申请号： | 201911376263.1 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111090035A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 顾申;李军;雷翻翻 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01J1/44;H01L27/092 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 陶丽;龙洪 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种光检测电路及光检测方法、芯片，光检测电路包括数字逻辑电路和检测装置，其中，数字逻辑电路包括一个或多个金属氧化物半导体场效应管，至少一个金属氧化物半导体场效应管在光照强度小于预设光照强度阈值时处于截止状态，在光照强度大于或等于预设光照强度阈值时处于导通状态；检测装置分别与数字逻辑电路的输入端和输出端连接，用于根据数字逻辑电路输入端的输入电平和输出端的输出电平，判断数字逻辑电路受到的光照强度。本申请通过使用数字逻辑电路和检测装置检测光照强度，减小了单个光检测电路的尺寸和成本，提高了光检测电路的防护范围，同时，不存在被攻击者轻易旁路其功能的潜在风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 电路 方法 芯片 | ||
【主权项】：
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