[发明专利]LTE基站、LTE基站测试系统和方法有效
| 申请号： | 201911377005.5 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111148141B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 李健;阮俊冰;王瑞伟 | 申请（专利权）人： | 京信网络系统股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/04 | 分类号： | H04W24/04;H04W24/08 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 张彬彬 |
| 地址： | 510663 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种LTE基站、LTE基站测试系统和方法。LTE基站中的数字基带单元集成了LTE物理层，用于下行通道射频测试的E‑TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块；同时，逻辑开关用于切换基站传输端口与LTE物理层、E‑TM信源模块或LTE解调模块中的一个导通。基于上述结构，在基站处于业务异常时，无需重启基站，只需将逻辑开关从LTE物理层切换至E‑TM信源模块，即可测试该状态下的下行通道的射频性能是否正常，并且，还可切换至LTE解调模块，测试该状态下的上行通道的射频性能是否正常。基于此，可有效解决基站处理业务异常时，上下行通道射频性能无法及时排查的问题，避免了基站重启可能引起的故障消失，提高基站测试的可靠性和故障排查的效率。 | ||
| 搜索关键词： | lte 基站 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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