[发明专利]一种大尺寸晶片加工用抛光液循环装置和方法有效
申请号: | 201911377667.2 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111015500B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 郭钰;刘春俊;彭同华;杨建 | 申请(专利权)人: | 北京天科合达半导体股份有限公司;江苏天科合达半导体有限公司;北京天科合达新材料有限公司 |
主分类号: | B24B37/04 | 分类号: | B24B37/04;B24B57/02;B24B37/005 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈志海 |
地址: | 102600 北京市大兴区中关村科技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种大尺寸晶片加工用抛光液循环装置和方法,将抛光液混液桶的出液口用于与抛光设备的入液口相连,抛光液混液桶的第一回液口用于与抛光设备的出液口相连;检测装置设置于抛光液混液桶出液口至抛光设备入液口之间,并与控制器相连,检测装置用于检测抛光液混液桶出液口中抛光液的稳定性参数,并将检测结果发送至控制器;控制器与调节补给装置相连,用于控制调节补给装置为抛光液混液桶注入抛光液调节剂,提高抛光液的稳定性。通过上述公开的装置和方法,对循环使用的抛光液的稳定性参数进行检测,当抛光液的稳定性参数低于预设稳定性参数时,注入抛光液调节剂使抛光液的稳定性参数符合预设稳定性参数,从而保证能够达到预期抛光效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 晶片 工用 抛光 循环 装置 方法 | ||
【主权项】:
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