[发明专利]一种检测NORFLASH存储器全局位线短路故障的软件测试方法有效
| 申请号： | 201911378529.6 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111563012B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 边维;张永华;李红军 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/14;G11C29/10 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 张然 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种检测NORFLASH存储器全局位线短路故障的软件测试方法，其中，包括：FLASH数据备份，测试软件收到NORFLASH备份命令和测试参数后，将指定空间数据备份到缓存空间中同时计算FLASH读出数据校验和，备份完成后计算缓存空间校验和，比较校验和是否一致，若不一致则置命令执行状态为校验错，终止测试；FLASH擦除编程测试，擦除FLASH全空间；根据编程类型对FLASH指定区域进行编程测试；对所编程区域进行回读校验；根据不同编程类型循环执行FLASH擦除编程测试操作；擦除FLASH全空间；FLASH数据恢复，对FLASH进行复位；将缓存空间的数据编程至指定FLASH空间；计算FLASH及缓存数据校验和，并比较是否一致。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 norflash 存储器 全局 短路 故障 软件 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津津航计算技术研究所，未经天津津航计算技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911378529.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于光电器件的有机分子
- 下一篇：HPV16L1的单克隆中和抗体及其应用
