[发明专利]激光外差光谱仪的仪器线型函数测量方法在审
| 申请号： | 201911378653.2 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111141493A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 卢兴吉;曹振松;黄俊;黄印博;黄宏华;朱文越;饶瑞中;王英俭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 王挺 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了激光外差光谱仪的仪器线型函数测量方法，将窄线宽激光器的窄线宽激光作为激光外差光谱仪的输入信号，激光外差光谱仪的输出信号即为激光外差光谱仪的仪器线型函数。本发明测量过程简便，实现了激光外差光谱仪的仪器线型函数的快速测量，且测量结果精度高，为准确计算激光外差光谱仪的光谱分辨率提供可靠依据，为提高基于测量光谱进行目标气体浓度反演的精度奠定了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 外差 光谱仪 仪器 线型 函数 测量方法 | ||
【主权项】：
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